元启芯半导体申请应用于通用并行计算架构错误检测方法及相关设备专利，实现高覆盖率的错误检测
时间：2025-08-14 13:36:13 阅读：
国家知识产权局信息显示，元启芯半导体技术有限公司申请一项名为“一种应用于通用并行计算架构的错误检测方法及相关设备”的专利，公开号CN120429161A，申请日期为2025年05月。
专利摘要显示，本发明提供了一种应用于通用并行计算架构的错误检测方法及相关设备，应用于错误检测领域，包括：上层程序经过编译后确定待计算任务；将待计算任务切分为多个线程束，并以线程束的粒度对各个所述线程束进行调度；对待调度的当前线程束的活跃线程掩码进行分析，判断活跃线程掩码的各个标识位是否均为1，若当前线程束的活跃线程掩码的各个标识位均为1，表明当前线程束中的各个线程均需执行错误检测，对当前线程束执行线程束间错误检测；若当前线程束的活跃线程掩码的各个标识位不均为1，则对当前线程束执行线程束内错误检测。
天眼查资料显示，元启芯半导体技术有限公司，成立于2022年，位于威海市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本25000万人民币。通过天眼查大数据分析，元启芯半导体技术有限公司专利信息72条，此外企业还拥有行政许可7个。
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