微-埃普西龙申请用于测量面状介质物理量的传感器及方法专利，通过结构简单的装置特别可靠地测量面状材料的物理量
时间：2025-08-11 02:15:08 阅读：
国家知识产权局信息显示，微-埃普西龙测量技术有限两合公司申请一项名为“用于测量面状介质的物理量的传感器及方法”的专利，公开号CN120418605A，申请日期为2023年12月。
专利摘要显示，一种用于测量载体上的面状介质的物理量的传感器，其中，传感器为了基于至少两个不同的物理测量原理进行测量而具有两个不同的测量装置，其中，第一测量装置具有电感式或涡流传感器，第二测量装置具有电容式或光学传感器，其中，所述第一测量装置主要或仅仅基于电磁效应而受到影响，所述电磁效应能够在测量期间在面状介质的载体中被感应或产生，并且所述第二测量装置主要或仅仅受面状介质影响，其中，所述第二测量装置的测量信号相对于第一测量装置的测量信号得出所述面状介质的物理量的测量信号，关于通过结构简单的装置特别可靠地测量面状材料的物理量涉及这样设计和进一步改进，即所述第一测量装置这样被选择和/或能运行，使得电磁效应能够仅仅或主要在载体的表面上能限定的尽可能薄的层中被感应或产生。此外提出一种相应的方法。
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