武汉凡德智能科技申请基于矩阵式多点表层位移监测方法及装置专利，规避风震动等环境因子对固定式测量基点造成的不利影响
时间：2025-08-24 10:58:39 阅读：
国家知识产权局信息显示，武汉凡德智能科技有限公司申请一项名为“一种基于矩阵式多点表层位移监测方法及装置”的专利，公开号CN120488956A，申请日期为2025年05月。
专利摘要显示，本发明涉及一种基于矩阵式多点表层位移监测方法及装置，该方法包括以下步骤：获取监测图像中M个标靶的像素坐标；根据M个标靶中的任意3个标靶的像素坐标点构建对应的圆环，形成N个圆环，N≥1；根据膨胀率公式实时计算各个圆环当前的膨胀率；根据膨胀率判断监测区域表层是否发生风险位移。
天眼查资料显示，武汉凡德智能科技有限公司，成立于2022年，位于武汉市，是一家以从事软件和信息技术服务业为主的企业。企业注册资本100万人民币。通过天眼查大数据分析，武汉凡德智能科技有限公司财产线条，此外企业还拥有行政许可1个。
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