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科磊股份取得用于半导体检验高分辨率检查系统及方法专利

时间：2025-08-29 07:31:58 阅读：

　　国家知识产权局信息显示，科磊股份有限公司取得一项名为“用于在后端及晶片级封装中半导体检验的高分辨率检查的系统及方法”的专利，授权公告号CN115244389B，申请日期为2020年04月。

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