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    智芯微电及浙大取得半导体器件界面缺陷测试方法及系统专利

    时间：2025-08-19 20:02:13 阅读：

    　　国家知识产权局信息显示，北京智芯微电子科技有限公司、浙江大学取得一项名为“半导体器件界面缺陷测试方法及系统”的专利，授权公告号CN119689196B，申请日期为2024年12月。

    　　源自：

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