中科飞测申请一种光学检测方法相关专利，有效避免明场探测器以及暗场探测器在探测过程中出现误触发
时间：2025-08-09 03:42:44 阅读：
国家知识产权局信息显示，深圳中科飞测科技股份有限公司申请一项名为“一种光学检测方法、光学检测装置以及存储介质”的专利，公开号CN120404714A，申请日期为2024年06月。
专利摘要显示，本申请实施例公开了一种光学检测方法、光学检测装置以及存储介质，用于光学成像技术领域。本申请实施例中，在控制明场探测器以及暗场探测器对待测物体表面进行相对运动扫描的过程中，获取明场探测器的明场成像区域与待测物体表面的像方待测区域之间的第一位置关系，以及暗场探测器的暗场成像区域与像方待测区域之间的第二位置关系；基于第一位置关系以及第二位置关系，控制明场探测器以及暗场探测器的探测触发情况，以探测得到像方待测区域对应的明场图像以及暗场图像，能够有效避免明场探测器以及暗场探测器在探测过程中出现误触发，可以准确地探测得到明场图像以及暗场图像。
天眼查资料显示，深圳中科飞测科技股份有限公司，成立于2014年，位于深圳市，是一家以从事仪器仪表制造业为主的企业。企业注册资本32000万人民币。通过天眼查大数据分析，深圳中科飞测科技股份有限公司共对外投资了12家企业，参与招投标项目263次，财产线条，此外企业还拥有行政许可39个。
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