上海精珅新材料申请光学保护膜疵点检测方法系统及设备专利，提高对光学保护膜表面上疵点缺陷的检测精度
时间：2025-08-16 08:48:16 阅读：
国家知识产权局信息显示，上海精珅新材料有限公司申请一项名为“一种光学保护膜的疵点检测方法、系统及设备”的专利，公开号CN120451174A，申请日期为2025年07月。
专利摘要显示，本申请涉及图像处理技术领域，具体涉及一种光学保护膜的疵点检测方法、系统及设备，该方法包括：获得每帧薄膜灰度图像，提取每帧薄膜灰度图像内的薄膜区域及其所有轮廓边缘；确定每帧薄膜灰度图像的薄膜区域内每条轮廓边缘对应的匹配轮廓边缘；确定每帧薄膜灰度图像的薄膜区域内每条轮廓边缘的相对位移差异、运动异常度；确定每帧薄膜灰度图像的薄膜区域内每条轮廓边缘的扭曲可能度；确定每帧薄膜灰度图像的薄膜区域内每条轮廓边缘的薄膜弯曲程度、缺陷判断系数，对光学保护膜的表面进行疵点检测。
天眼查资料显示，上海精珅新材料有限公司，成立于2017年，位于上海市，是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本6289.0626万人民币。通过天眼查大数据分析，上海精珅新材料有限公司参与招投标项目2次，财产线条，此外企业还拥有行政许可13个。
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